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半自動觸屏四探針測試儀

更新時(shí)間：2023-11-03

訪問量：1276

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址：北京

簡要描述：

半自動觸屏四探針測試儀：四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動點(diǎn)測模式或手動點(diǎn)測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

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產(chǎn)品介紹：

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
類型	數(shù)字式電阻測試儀	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,石油,地礦,綜合

關(guān)鍵詞：半自動觸屏四探針測試儀

四探針測試儀數(shù)字四探針測試儀探針測試機(jī) 雙電測四探針測試儀半自動四偵針測試儀

產(chǎn)品用途：

半自動觸屏四探針測試儀：四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動點(diǎn)測模式或手動點(diǎn)測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

儀器特點(diǎn)：

晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號	BX-Y1228
1.電阻	10^-5～2×10^5Ω
2.方塊電阻	10^-5～2×10^5Ω/□
3.電阻率	10^-6～2×10^6Ω-cm
4.測試電流	0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA
5.電流精度	±0.1%
6.電阻精度	≤0.3%
7.PC軟件操作	PC軟件界面：電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大、小值，均值，方差，變異系數(shù)，樣品編號，測試點(diǎn)數(shù)統(tǒng)計(jì)報(bào)表生成等
8.探針范圍選購：	探針壓力為100-550g；依據(jù)樣品接觸需要手動調(diào)節(jié)
9.探針	針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機(jī)械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質(zhì)，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規(guī)格可定制
10.可測晶片尺寸選購	晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm
11.分析模式	自動或手動單點(diǎn)模式
12.加壓方式	測量重復(fù)性：重復(fù)性≤3%
13.防護(hù)功能	具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報(bào)
14.測試環(huán)境	實(shí)驗(yàn)室環(huán)境
15.電源	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<100W
16.選購項(xiàng)目	電腦和打印機(jī)